Schmidt+Haensch iPR C2 – Kompakt Inline Proses Refraktometresi

Kompakt ve hafif (140×69 mm, 1.9 kg) inline proses refraktometresi. 0-60 Brix, IP69K, CIP uyumlu, 24 VDC. Dar alanlara uygun ideal fiyat/performans orani.

Açıklama

Schmidt+Haensch iPR C2, gida, kimya ve su arıtma proseslerinde inline konsantrasyon ölçümü icin kompakt ve hafif bir proses refraktometresidir. 140×69 mm kucuk boyutları sayesinde dar boru hatlarına kolayca monte edilir. YAG prizma renk ve bulanıklıktan bağımsız ölçüm saglar. Turkiye distribütörü: Pikolab Mühendislik.

Ek bilgi

Ağırlık 1,9 kg
Boyutlar 14,01 × 6,9 × 6,9 cm
Uretici / Marka

Schmidt+Haensch

Ölçüm Prensibi

Refraktometre (Kritik aci – ic yansima)

Olcum Parametresi

Kirilma Indeksi (RI)|Brix (Bx)|Plato (P)|Konsantrasyon (%)

Kurulum Tipi

Inline (hat ici)|Tank montaji|Bypass

Çıkış Sinyali

4-20 mA x1 izole|Dijital switch cikis x1

IP Koruma Sinifi

IP69K

ATEX / Patlayici Ortam

Yok

Hedef Endustri

Gida ve Icecek|Kimya ve Polimer|Su ve Atiksu|Sogutma ve Yaglama|Boya ve Kaplama

Proses Bağlantısı

VariVent type N SS316L|APV SS316L|VariVent Hastelloy C276|APV Hastelloy C276

Maks Proses Sicakligi

-10 ile +80 C

Maks Proses Basinci

10 bar standart | 30 bar APV ile

Dijital Protokol

RS232|RS485|USB

Hijyen Standardi

CE

CIP SIP Uyumu

CIP uyumlu

Govde Malzemesi

SS 316L (1.4404)|Hastelloy C276 opsiyonel

Transmitter

Entegre standalone

Temizleme

Su bazli CIP

Ölçüm Aralığı

1.3200 – 1.4420 RI / 0 – 60 Brix

Hassasiyet

Dogruluk +/-0.0002 RI / +/-0.15 Brix | Cozunurluk 0.00007 RI / 0.05 Brix

Guc Besleme

24 VDC (20-28 V) | maks 75 mA

Sertifikalar

CE|IP69K|DEKRA ISO 9001:2015

Display

Yok

Teknik Doküman

PDF Datasheet