Schmidt+Haensch iPR B4 – Temel Inline Proses Refraktometresi

Gida, içecek ve kimya endustrisi icin geniş ölçüm aralıklı (0-85 Brix) temel proses refraktometresi. IP69K, CIP/SIP 150 C 30 dk, 24 VDC, 2x 4-20 mA, RS232.

Açıklama

Schmidt+Haensch iPR B4, sekerleme, icecek, gida ve kimya proseslerinde inline konsantrasyon izleme için geniş ölçüm aralıklı temel proses refraktometresidir. 0-85 Brix aralığında safir prizma ile renk ve bulanıklıktan bağımsız hassas ölçüm saglar. CIP/SIP uyumluluğu (150 C / 30 dk) ve IP69K koruma ile en zorlu ortamlarda guvenle çalışır. Turkiye distributorü: Pikolab Mühendislik.

Ek bilgi

Ağırlık 5,3 kg
Boyutlar 24,5 × 13,6 × 13,6 cm
Uretici / Marka

Schmidt+Haensch

Ölçüm Prensibi

Refraktometre (Kritik aci – ic yansima)

Olcum Parametresi

Kirilma Indeksi (RI)|Brix (Bx)|Plato (P)|Oechsle|Konsantrasyon (%)

Kurulum Tipi

Inline (hat ici)|Tank montaji|Bypass

Çıkış Sinyali

4-20 mA x2 izole|Dijital switch cikis x2

IP Koruma Sinifi

IP69K

ATEX / Patlayici Ortam

Yok

Hedef Endustri

Gida ve Icecek|Seker ve Nisasta|Bira ve Malt|Kimya|Ilac ve Biyoteknoloji

Proses Bağlantısı

VariVent type N SS316L|APV SS316L

Maks Proses Sicakligi

-10 ile +90 C (CIP/SIP 150 C 30 dk)

Maks Proses Basinci

10 bar standart | 30 bar APV ile

Dijital Protokol

RS232|RS485|USB

Hijyen Standardi

CE

CIP SIP Uyumu

CIP/SIP uyumlu (150 C 30 dk)

Govde Malzemesi

SS 316L (1.4404)

Transmitter

Entegre standalone

Temizleme

Su bazli CIP|SIP 150 C 30 dk

Ölçüm Aralığı

1.32000 – 1.51000 RI / 0 – 85 Brix

Hassasiyet

Dogruluk +/-0.00011 RI / +/-0.08 Brix | Cozunurluk 0.00001 RI / 0.01 Brix

Guc Besleme

24 VDC (20-28 V) | maks 120 mA

Sertifikalar

CE|IP69K|DEKRA ISO 9001:2015

Display

Yok

Teknik Doküman

PDF Datasheet